超精密年輪計測システム
DENDRO 2003
DENDRO2003は超高精度で切り出し樹木サンプルの年輪計測が行えるシステムです。顕微鏡画像が大型スクリーンに表示され、細かい解析を連動する画像解析システムにて行えます。
主な特徴
- 透過光によるX線フィルムの解析
- 入射光によるサンプル表面の解析
- ポジショニングテーブル上のオブジェクトの高速で正確かつ反復可能なポジショニング (3軸ジョイスティックは300×170mmのXおよびY範囲でテーブルを移動します)
- 大型回転スクリーン上測定対象のちらつきのない投影
- 10倍、25倍、または50倍の鮮やかなディスプレイ (リクエストに応じて他の倍率も利用可能です)
- 高周波蛍光管のバックライトにより、フィルムの表示領域の向きが保証されます
- 自動および手動のデータ取得
- 論理的でユーザーフレンドリーなコントロールパネルの設計により、簡単で効率的な処理が可能になります
- 記録された密度値のデジタル化とグラフィック形式への変換により、データ処理、データ管理、およびデータ比較が容易になります
- 電気オブジェクトのフォーカシングとブリリアンスコントロール
- 傾斜可能な軸を備えた可変サイズのフォトセンサー
- データ取得中のテーブルの前後移動
- 密度偏差が小さい構造を記録するための手動操作のスライド式ポテンショメータ